XTD-200釹鐵硼磁鐵電鍍層X射線分析儀

產品詳情

    XTD-200測厚儀，專業(yè)表面處理檢測解決方案：釹鐵硼磁鐵Ni/Cu/Ni/FeAlB電鍍層分析

兩層重復鎳鍍層厚度分析儀

    XTD-200測厚儀，于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

    儀器優(yōu)點：

    1. 分析精度*

    2. 分析范圍廣泛

    3. 微區(qū)定位

    4. 操作簡單快捷

    5. 結果可靠

    6. 行業(yè)標準

    XYZ高精密移動裝置：快速定位，手/自動（可選），自動版可實現編程定位多點自動測試。

    軟、硬件雙向操作：人性化設計，實現軟件，硬件雙向快捷操作。

    變焦 對焦：配備高敏感鏡頭，實現無感對焦，可測各種異形件、超大工件。

    性能優(yōu)勢：

    1.*EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可測量。

    2.上照式設計：實現可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量。

    3.自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦。

    4.變焦裝置算法：可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

    5.小面積測量：小測量面積0.002mm2

    6.大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺200*200mm.

  XTD-200釹鐵硼磁鐵電鍍層X射線分析儀結構設計：

    一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達到視覺與測試定位一體，且X光擴散度極??；與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能，實現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

    EFP算法：

    采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數法，基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強度，在基于此計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論a系數去校正元素間的吸收增強效應。

    只需少數標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬以及有機物層。