x熒光鍍層測(cè)厚儀是根據(jù)多年的貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成

x熒光鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

專(zhuān)業(yè)貴金屬檢測(cè)
智能貴金屬軟件，與儀器相得益彰
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
多變量非線(xiàn)性回收程序

x熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

X射線(xiàn)激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線(xiàn)管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
X射線(xiàn)管：管電壓50KV，管電流1mA
可測(cè)元素：Ti～U
檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管
樣品觀察：CCD攝像頭
測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線(xiàn)法
Z軸程控移動(dòng)高度 20mm

標(biāo)準(zhǔn)配置

X射線(xiàn)管，正比記數(shù)盒，高清攝像頭，高度激光，信號(hào)檢測(cè)電子電路。